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歡迎光臨材料人考學(xué)～

你還在為畢設(shè)實(shí)驗(yàn)中材料測試分析而辛辛苦苦排隊(duì)等儀器嗎？

你還在因?yàn)閷ρ矍暗膬x器信息及參數(shù)不了解而抓耳撓腮嗎？

別怕！因?yàn)槟阈枰?，剛好我們專業(yè)。材料人將為您提供更優(yōu)質(zhì)的服務(wù)！

沉迷科研的你可能需要一次對常用儀器信息、常見型號(hào)以及可測參數(shù)簡單粗暴的科普，來，收下這份干貨！

隨后小編將通過對比的方式介紹各種表征方式的異同，一起探討如何玩轉(zhuǎn)這測試分析的十八般武器。

不僅如此，以下測試，材料人測試谷都能高質(zhì)量完成，另外還能提供一些非常規(guī)的測試，如球差電鏡、掃描隧道顯微鏡、穆斯堡爾譜、極低溫物性測試/熱導(dǎo)/力學(xué)性能等。

對于測試表征之后的數(shù)據(jù)分析、XRD精修、論文潤色和科研制圖，我們也為大家準(zhǔn)備大量的優(yōu)秀工程師和培訓(xùn)教程，記得關(guān)注我們近期推出的3Dmax系列講座哦，16節(jié)課不容錯(cuò)過！

原子力顯微鏡（AFM）

原子力顯微鏡 Bruker dimension icon 基本形貌、3D效果顯示　　電學(xué)磁學(xué)力學(xué) 　　熱學(xué) 　　粗糙度分析

透射電子顯微鏡（TEM）

　　透射電子顯微鏡　　JEM2100F　　FEI Tecnai G2 F30　　Tecnai G2 Spirit120KV　　Titan Cubed Themis G2 300　　Titan 80-300　　JEM-2010F　　EI Tecnai G2 20 　　TEM形貌觀察　　HRTEM高分辨像　　EDS能譜元素定性定量分析　　STEM掃描透射電子顯微圖像　　EELS能量損失譜　　SAED選區(qū)電子衍射　　S/TEM、EDS三維重構(gòu) 　　微分相位襯度STEM技術(shù)測量固有磁場和電場　　全息技術(shù) 　　缺陷分析　　結(jié)構(gòu)測定　　洛倫茲透鏡

掃描電子顯微鏡-SEM

　　場發(fā)射掃描電子顯微鏡　　Zeiss Merlin　　Hitachi SU8010　　Hitachi S-3400N　　日立S-5500　　JSM-6301F　　JSM7600F 　　SEM形貌觀察　　EDS點(diǎn)/線掃　　EDS面掃　　EDS形態(tài)學(xué)分析　　EDS顆粒分析　　EBSD振動(dòng)拋光　　EBSD測試　　透射像（明場和暗場）

掃描隧道顯微鏡-STM

　　掃描隧道顯微鏡　　Low-Temperature UHV-STM System 　　原子級(jí)別高分辨表面形貌分析　　表面電子結(jié)構(gòu)表征

電鏡制樣

　　聚焦離子束（雙束）　　Auriga FIB 　　形貌觀察　　元素定性定量分析　　晶體取向分析　　原子序數(shù)襯度像　　離子束加工與沉積　　納米手操控（Omniprobe 200）　　3D成像（圖像、成分、晶體取向）　　離子束鍍膜與刻蝕系統(tǒng) 　　Gatan 682 　　碳膜（或鉻、金、鉑等）　　離子減薄儀　　RES 101 　　透射/掃描電鏡樣品的減薄，清洗和原位噴鍍　　離子減薄儀　　PIPS Ⅱ 695 　　透射電鏡樣品的減薄，清洗

X射線衍射儀

最低12K，最高1600℃變溫測試，廣角、小角、掠入射、步進(jìn)、慢掃、原位、織構(gòu)等

　　原位變溫X射線粉末衍射儀　　日本理學(xué)D/max 2550　　XRD-7000型　　布魯克D8 Advance　　Philips PW 3040/60型　　帕納科 XPert Pro MRD高分辯衍射儀　　低溫XRD（12K）　　高溫XRD（1600℃）　　小角散射　　小角衍射　　廣角　　掠入射　　慢掃　　常規(guī)廣角　　精修計(jì)算服務(wù)

物理吸附

　　比表面積和孔徑分析儀　　麥克ASAP2020 　　BET 　　微孔分布　　介孔分布

化學(xué)吸附

　　全自動(dòng)化學(xué)吸附儀　　麥克AutoChem1 II 2920 　　程序升溫還原（TPR）　　程序升溫脫附（TPD）　　程序升溫氧化（TPO）　　程序升溫反應(yīng)評(píng)價(jià)

粒度分布

　　激光粒度分析儀　　MS2000 　　微米粒度及粒度分布　　納米粒度及Zeta分析儀　　NanoZS+MPT2 　　納米粒度分布測定　　Zeta電位

TG、DSC

熱重、熱焓、比熱等測試，可測-180℃到1600℃范圍內(nèi)各項(xiàng)數(shù)據(jù)

DSC 　　Netzsch，STA449F3　　Mettler DSC3　　Netzsch，DSC204F1　　Netzsch/Bruker TG209F3/Tensor 27　　TA Q600　　Netzsch，404 F3 　　常規(guī)DSC測試　　TG 　　TG-DSC測試　　TG-DSC 　　氧化誘導(dǎo)期　　TG-IR 　　比熱

導(dǎo)熱

測熱導(dǎo)率最低溫度可測到4.2K，最高測到1100℃，100℃以下可直接測出，100℃以上需要通過測熱擴(kuò)散系數(shù)和比熱后計(jì)算

　　激光導(dǎo)熱儀（LFA457）　　LFA457　　LFA447　　NETZSCH， LFA-457 　　熱擴(kuò)散系數(shù) 　　激光導(dǎo)熱儀（LFA447）　　激光熱導(dǎo)儀　　熱擴(kuò)散系數(shù) 　　導(dǎo)熱測試儀　　導(dǎo)熱系數(shù) 　　比熱測試儀　　室溫-4.2K

動(dòng)態(tài)熱機(jī)械分析-DMA

　　動(dòng)態(tài)熱機(jī)械分析儀　?。∟etzsch）DMA242E 　　室溫～600℃

傅里葉紅外

可測普通紅外、ATR紅外、原位紅外和吡啶紅外等，在室溫到900℃溫區(qū)內(nèi)提供多種氣氛

　　傅立葉變換紅外光譜儀（帶原位反應(yīng)池）　　Nicolet is50　　Thermo fisher Nicolet 6700　　Bruker Tensor 27 　　衰減全反射ATR　　透射紅外 KBr壓片　　透射紅外無需KBr壓片　　漫反射　　原位紅外　　吡啶紅外

X射線光電子能譜儀 XPS

　　X射線光電子能譜儀　　PHI 5000 Versaprobe II　　Kratos Axis Ultra DLD　　Thermo Scientific ESCALAB 250Xi 　　常規(guī)寬譜掃描　　窄譜掃描　　紫外光電子能譜（UPS）　　選區(qū)成像 mapping 　　Ar離子刻蝕（不含采譜）　　Ar團(tuán)簇離子深度剖析（采譜另計(jì)）　　Al/Mg雙陽極　　原位高低溫（153~773K）　　準(zhǔn)原位高低溫（123~1073K）　　角分辨XPS 　　AES（俄歇能譜）　　REELS、ISS

元素分析

可以分析各種無機(jī)樣品、有機(jī)樣品、金屬樣品元素含量，分析92號(hào)以前的全部元素。

　　CHNSO有機(jī)元素分析儀　　Vario el cube 　　CHNS元素　　O元素　　德國Elementar公司Vario EL Ⅲ 　　電感耦合等離子原子發(fā)射光譜儀　　Thermo iCAP-6000　　OPTIMA 8000DV 　　元素含量　　全元素定量（同時(shí)測定55種元素）　　X射線熒光光譜儀（XRF）　　島津XRF-1800型波長色散熒光光譜儀　　定性　　定量　　全元素定量　　紅外碳硫儀　　力可CS344 　　C、S含量　　紅外氮氧儀　　力可TC400 　　N、O含量

原位拉曼光譜

測溫范圍：80-473K，325 514 532 633 780nm 波長都有

　　拉曼光譜儀　　共焦顯微拉曼光譜儀　　LabRAMHR 800　　雷尼紹RiVia 　　普通掃譜（325nm ）　　普通掃譜（532nm、785nm、633nm）　　高低溫測試(LINKAM)　　原位拉曼光譜測試（mapping+電化學(xué)工作站）　　大光斑掃描（DUOSCAN）　　變溫測試（80-473K）　　紫外可見近紅外分光光度計(jì) 　　Cary 5000　　島津UV360 　　紫外可見近紅外光譜　　液體樣品紫外吸收測試　　固體樣品透過率　　反射率測試

極低溫力學(xué)性能

可測材料在液氦、液氮以及常溫下的力學(xué)性能

　　電子萬能材料試驗(yàn)機(jī)　?。ǘ嗯_(tái)、載荷等參數(shù)不同）　　拉伸強(qiáng)度　　室溫　　液氮　　20K 　　4.2K 　　彎曲強(qiáng)度　　室溫　　液氮　　20K 　　4.2K 　　斷裂韌性　　室溫　　液氮　　液氦　　壓縮強(qiáng)度　　室溫　　液氮　　20K 　　4.2K 　　沖擊韌性　　室溫　　液氮　　20K 　　4.2K 　　剪切強(qiáng)度　　室溫　　液氮　　20K 　　4.2K 　　微機(jī)控萬能試驗(yàn)機(jī) 　　CMT6104 　　三角彎曲變形、薄膜拉伸、拉伸強(qiáng)度　　全自動(dòng)電子萬能材料試驗(yàn)機(jī) 　　Zwick Z100　　Zwick Z050 　　拉伸　　常溫　　100-400℃ 　　沖擊試驗(yàn)機(jī) 　　三思縱橫300J　　MTS-SANS　　ZBC-300A　　PMT-1200 　　沖擊韌性　　室溫　　室溫　　液氮　　20K 　　4.2K 　　疲勞試驗(yàn)機(jī) 　　PLS100　　Instron 8802 　　疲勞　　室溫　　液氦　　液氮

硬度

　　數(shù)顯布洛維硬度計(jì) 　　SHBRV-187.5 　　硬度測試　　顯微維式硬度計(jì) 　　EM-1500L 　　維式硬度測試　　布氏硬度計(jì) 　　MHB-3000 　　硬度　　洛氏硬度計(jì) 　　HRS-150 　　維氏硬度計(jì) 　　HVS-30P

線膨脹測試（超大溫度范圍）

最低溫度可達(dá)4.2K，最高溫度能到2800℃。

　　線膨脹測試儀　　德國Linseis，L75　　耐馳 DIL402C 　　線膨脹系數(shù)

電池測試設(shè)備

　　研究型接觸角測量儀　　DSA30 　　接觸角　　表面張力測試儀　　表面張力　　水分測定儀　　831 KF 　　固體水分測定　　液體水分測定　　全自動(dòng)真密度分析儀　　AccuPyc II 1340 　　真密度　　全自動(dòng)振實(shí)密度分析儀　　GeoPyc 1360 　　振實(shí)密度　　手套箱　　M.BRUN雙工位　　手套箱機(jī)時(shí) 　　電化學(xué)工作站（VMP3）　　VMP3 　　EIS 　　CV 、充放電等　　電化學(xué)工作站（Solartron）　　Solartron 1470E 　　EIS 　　CV 、充放電等　　藍(lán)電測試儀　　CT 2001A 　　恒流/恒壓充放電　　動(dòng)力電池　　測試儀　　S4000 　　電性能測試 ≤15A量程　　電性能測試 100A量程　　電性能測試 200A量程　　電性能測試 400A量程　　電性能測試 800A量程　　振動(dòng)試驗(yàn)機(jī) 　　DC-300 　　≤5Ah 　　5-10（包含）Ah 　　10-20（包含）Ah 　　機(jī)械沖擊試驗(yàn)機(jī) 　　CL-50 　　≤5Ah 　　5-10（包含）Ah 　　10-20（包含）Ah 　　電池高溫隔爆試驗(yàn)機(jī) 　　DMS-9987 　　≤5Ah 　　5-10（包含）Ah 　　10-20（包含）Ah 　　溫控型電池短路試驗(yàn)機(jī) 　　DMS-WDL 　　≤5Ah 　　5-10（包含）Ah 　　10-20（包含）Ah 　　電池低氣壓模擬試驗(yàn)機(jī) 　　DMS-9988 　　≤5Ah 　　5-10（包含）Ah 　　10-20（包含）Ah 　　電池自由跌落試驗(yàn)機(jī) 　　DMS-9985 　　≤5Ah 　　5-10（包含）Ah 　　10-20（包含）Ah 　　電池?cái)D壓試驗(yàn)機(jī) 　　DMS-9981 　　≤5Ah 　　5-10（包含）Ah 　　10-20（包含）Ah 　　電池重物沖擊試驗(yàn)機(jī) 　　DMS-Z9983 　　≤5Ah 　　5-10（包含）Ah 　　10-20（包含）Ah 　　電池燃燒拋射試驗(yàn)機(jī) 　　DMS-9986 　　≤5Ah 　　5-10（包含）Ah 　　10-20（包含）Ah 　　電池洗滌試驗(yàn)機(jī) 　　DMS-XD 　　≤5Ah 　　5-10（包含）Ah 　　10-20（包含）Ah 　　電池針刺試驗(yàn)機(jī) 　　DMS-9982 　　≤5Ah 　　5-10（包含）Ah 　　10-20（包含）Ah 　　靜電放電模擬器　　ESS-B3011/GT-30R 　　≤5Ah 　　5-10（包含）Ah 　　10-20（包含）Ah

熱電

　　熱電測試系統(tǒng) 　　Linseis， LSR-3 　　電阻率 Seebeck系數(shù)

綜合物性測量系統(tǒng)

磁場可到14T，溫度最低可達(dá)50mK

　　PPMS 　　Quantum Design，　　材料物性測試

色譜

　　凝膠滲透色譜儀　　Waters E2695 　　四氫呋喃測試溫度：30°C 　　高溫凝膠滲透色譜儀　　PL-GPC 220 　　三氯苯測試溫度：150°C 　　圓偏振熒光光譜儀　　JASCO CPL-300 　　CPL 　　氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀（GCMS）　　Trace1300 ISQ 　　氣相色譜質(zhì)譜

其他

　　壓汞儀　　麥克AutoPore IV 9500 　　固體　　粉末　　橢偏儀　　美國J.A.Woollam公司 VB-400 　　薄膜厚度　　折射率　　消光系數(shù)測試