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【內(nèi)存供電芯片用萬(wàn)用表怎么檢測(cè)】嘉豐心性能教模擬電源芯片如何測(cè)量好壞嗎?

電源芯片是所有電子設(shè)備的供電心臟,控制電子設(shè)備的脈搏——電,負(fù)責(zé)電源轉(zhuǎn)換、分配、檢測(cè)等功能,一旦發(fā)生故障,電子設(shè)備就會(huì)停止工作,甚至受到損害。是電子設(shè)備的核心部件。

電源芯片是電子設(shè)備不可缺少的組成部分,如果電源芯片在電路中受損,電子設(shè)備可能會(huì)死機(jī)。那么我們?cè)撊绾螜z測(cè)呢?下面,我們將結(jié)合家風(fēng)心性偏編,了解一下電源電路的電源芯片是如何測(cè)量好壞的。

1.離線檢測(cè):通過(guò)測(cè)量IC芯片上針腳與接地之間的正、反電阻值,與良好的IC芯片進(jìn)行比較,找到故障點(diǎn)。

2、在線測(cè)試:直流電阻檢測(cè)方法配合離線測(cè)試。但是,要切斷正在測(cè)試的電路板的電源,萬(wàn)能計(jì)內(nèi)部電壓不能超過(guò)6V,測(cè)量時(shí)要注意周圍的影響。

3.交流工作電壓測(cè)試法:用帶有dB文件的萬(wàn)能表測(cè)量芯片的交流電壓近似值。如果沒(méi)有DB文件,可以用0.1-0.5F分離直流電容器。該方法適用于工作頻率較低的IC。但是,由于這些信號(hào)在不同的固有頻率上有不同的波,因此測(cè)量的數(shù)據(jù)是近似的。

4.總電流測(cè)量法:通過(guò)測(cè)量電源芯片的總電流來(lái)判斷芯片的好壞。芯片內(nèi)部大部分是直流耦合,因此,如果IC損壞(例如PN聯(lián)接穿透或打開(kāi)),會(huì)發(fā)生后級(jí)飽和和閉合,從而導(dǎo)致總電流的變化。因此,測(cè)量總電流可以判斷芯片的好壞。在線測(cè)量電路電阻的電壓,可以計(jì)算電流值。

在檢測(cè)電源芯片之前,需要了解IC在該電路中的用途、內(nèi)部結(jié)構(gòu)原理、主要電氣特性等,必要時(shí)需要分析內(nèi)部電氣結(jié)構(gòu)圖,以便更好地判斷該部件是否實(shí)際損壞。通過(guò)以上幾種檢測(cè)方法,工程師一般可以快速判斷電源芯片的好壞。

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