直接顯示FF或00、CPU不工作ATX電源損壞、CPU腳焊點長熱膨脹、收縮、脫焊、CPU附近的電解電容器爆裂、CPU附近的功率三極管燃燒

代碼：FF、00、C0、D0、CF、F1或任何內(nèi)容表示CPU失敗

C1、C6、C3、D3、D4、D6、D8、B0、A7、E1是指內(nèi)存

24、25、26、01、0A、0B、2A、2B、31表示顯卡，但部分集成顯卡主板23、24、25表示可以正常開機，部分VIA芯片組表示顯示13可以開機，部分品牌機器的主板表示顯示0B表示正常。

C1、C6、C3、01、02這種組合循環(huán)跳躍大多數(shù)是I/0不好，或者BIOS顯示05、ED、41時直接刷BIOS。

主板檢測卡指示燈說明

BIOS指示燈：BIOS的活動指示燈持續(xù)閃爍

CLK燈：鐘表燈，正常照明

OSC燈：參考鐘表燈，正常照明

RESET燈：正常開機后關(guān)閉，以便重置燈

RUN燈：12V、-12V、5V、3.3V等應(yīng)該不斷閃爍，以便燈能夠工作

通用代碼維護

1、00、CO、CF、FF或D1 BIOS芯片CS是否可選：(1)、片選擇：BIOS更改、BIOS測量OE是否有效、PCI測量AD線、CPU是否重置1.5V-；(2)、無切片：測量PCI的幀，測量CPU的DBSY幀#，不正常的話北交會壞，幀周期信號不正常的話南交會壞。

2、C0 CPU插槽臟、針腳故障、接觸不良、更換電源、更換CPU、更換適配器卡有時能解決問題。BIOS刷子、檢查BIOS片、I/O差、北橋虛擬焊接、南藥橋故障、PCB單線、將傳導性附著到主板上

3、C1、C3、C6、A7或E1內(nèi)存接觸不良(用鑷子繪制內(nèi)存插槽)內(nèi)存工作電壓SDRAM (3.3V)、DDR(2.5和1.25V)時鐘測量(CLK0到CLK3) CPU

4、C1~05循環(huán)跳躍測試32.768MHZ正常BIOS損傷I/O還是濫交損傷。

5、C1、C3、C6刷BIOS、BIOS表電源檢查、CPU更換、適配器切換有時可以解決問題。斷開PCB連接、主板上的導電交換內(nèi)存、PC100、PC133或更快、更可靠的內(nèi)存更換內(nèi)存插槽，以及部分主板上的內(nèi)存插槽必須插入最內(nèi)部或外部的插槽，然后才能直觀檢測內(nèi)存插槽是否存在機械損壞(如短路)。沒有內(nèi)存的CLK0、CLK1、CLK2、CLK3、CLK4，檢查內(nèi)存主電源關(guān)閉值是否存在打開現(xiàn)象檢查I/o芯片、北交虛擬焊接或北交是否損壞

6、C1-C3或C1-C5刷BIOS循環(huán)切換I/O有時可以解決問題，I/O周邊電路PCB連接中斷，主板上粘著導電交換電源，更換CPU，內(nèi)存濫交損壞。

7、其他電源線刷BIOS電源交換、CPU、內(nèi)存檢查I/O周邊電路、I/O芯片PCB斷開連接、將導電材料附著在主板上、南橋故障。

8、bO碼測量內(nèi)存數(shù)據(jù)負載電壓1.25V、2.5V(DDR

)CMOS北橋電源或北橋故障9、25碼測量AGP核心電源4X(1.5V)、8X(0.8V)、2X(3.3V)北橋電源、北橋故障

10、離開od后，PCI插槽之間的電阻和阻塞外部頻率、多路器跳線不公開。

11.如果顯示器Ob顯示器仍未更換顯卡，主板有時與顯卡不兼容。電源更換、CPU更換、內(nèi)存更換、視頻插槽更換、PCB斷開連接、主板上導電刷BIOS更改I/O Chanbeiqiao電源或南北橋不良檢查PCI、AGP插槽附近的阻塞和電容器

12、顯示器二維碼測量AGP的AD線初始化INTR信號北橋電源異常或北橋壞了。

13.顯示二維碼后不變，BIOS時鐘發(fā)生器不良CMOS北橋供電異常或北橋壞了。

14、顯示50碼I/O電源或I/O芯片不良南橋電源或南橋不良BIOS不良、北橋故障。

15、顯示器41刷BIOS A18跳線PCB斷開連接，主板上導電I/O差，南橋故障。

錯誤代碼：00(FF)代碼含義：主板沒有正常的自檢解決方法。因為主板或CPU不能正常工作，所以此故障可能更麻煩。一般來說，在這種情況下，除了CPU以外，可以卸下計算機的所有部件，檢查主板電壓、倍增器和外部頻率設(shè)置是否正確，然后釋放CMOS并打開電源，以確認問題是否得到解決。如果故障持續(xù)存在，可以從主板上的插座中卸下CPU，仔細清潔插座和周圍灰塵，安裝CPU，施加一定壓力，使CPU緊貼插座，然后正確安裝散熱器并開始測試。如果故障仍然存在，建議更換CPU測試。如果主板BIOS損壞，如有必要，可以更新主板BIOS，然后重試。

錯誤代碼：01代碼含義：處理器測試解決方法：表示CPU本身未通過測試。需要檢查與CPU相關(guān)的設(shè)備。如果已超頻CPU，請將CPU頻率恢復為默認頻率，并確保CPU電壓、帶外和倍頻設(shè)置正確。如果所有正常故障仍然存在，則可以更換CPU再試一次。

錯誤代碼：C1 ~ C5代碼含義：內(nèi)存自檢解決方法：指示系統(tǒng)內(nèi)存有缺陷的更常見癥狀。要解決這些錯誤，請先將內(nèi)存

實行除塵、清潔等工作再進行測試。如問題依舊，可嘗試用柔軟的橡皮擦清潔金手指部分，直到金手指重新出現(xiàn)金屬光澤為止，然后清理掉內(nèi)存槽里的雜物，并檢查內(nèi)存槽內(nèi)的金屬彈片是否有變形、斷裂或氧化生銹現(xiàn)象。開機測試后如故障依舊，可更換內(nèi)存再試。如有多條內(nèi)存，可使用替換法查找故障所在。

錯誤代碼：0D代碼含義：視頻通道測試解決方法：這也是一種較常見的故障現(xiàn)象，它一般表示顯卡檢測未通過。這時應(yīng)檢查顯卡與主板的連接是否正常，如發(fā)現(xiàn)顯卡松動等現(xiàn)象，應(yīng)及時將其重新插入插槽中。如顯卡與主板的接觸沒有問題，則可取下顯卡清理其上的灰塵，并清潔顯卡的金手指部份，再插

插到主板上測試。如故障依舊，則可更換顯卡測試。一般系統(tǒng)啟動過0D后，就已將顯示信號傳輸至顯示器，此時顯示器的指示燈變綠，然后DEBUG卡繼續(xù)跳至31，顯示器開始顯示自檢信息，這時就可通過顯示器上的相關(guān)信息判斷電腦故障了

錯誤代碼：0D至0F代碼含義：CMOS停開寄存器讀/寫測試解決方法：檢查CMOS芯片、電池及周圍電路部分，可先更換CMOS電池，再用小棉球蘸無水酒精清洗CMOS的引腳及其電路部分，然后看開機檢查問題是否解決。

錯誤代碼：12、13、2B、2C、2D、2E、2F、30、31、32、33、34、35、36、37、38、39、3A代碼含義：測試顯卡解決方法：該故障在AMI BIOS中較常見，可檢查顯卡的視頻接口電路、主芯片、顯存是否因灰塵過多而無法工作，必要時可更換顯卡檢查故障是否解決。

錯誤代碼：1A、1B、20、21、22代碼含義：存儲器測試解決方法：同Award BIOS篇內(nèi)存故障的解決方法。

注意事項：如在BIOS設(shè)置中設(shè)置為不提示出錯，則當遇到非致命性故障時，診斷卡不會停下來顯示故障代碼，解決方法是在BIOS設(shè)置中設(shè)置為提示所有錯誤之后再開機，然后再根據(jù)DEBUG代碼

檢測卡代碼大全：出現(xiàn)順序不定、下面按名稱排列

01、處理器測試1，處理器狀態(tài)核實，如果測試失敗，循環(huán)是無限的。處理器寄存器的測試即將開始，不可屏蔽中斷即將停用。CPU寄存器測試正在進行或者失敗。

02、確定診斷的類型（正?；蛘咧圃欤?。如果鍵盤緩沖器含有數(shù)據(jù)就會失效。停用不可屏蔽中斷；通過延遲開始。CMOS寫入／讀出正在進行或者失靈。03、清除8042鍵盤控制器，發(fā)出TESTKBRD命令（AAH）通電延遲已完成。ROMBIOS檢查部件正在進行或失靈。

04、使8042鍵盤控制器復位，核實TESTKBRD。鍵盤控制器軟復位／通電測試?？删幊涕g隔計時器的測試正在進行或失靈。

05、如果不斷重復制造測試1至5，可獲得8042控制狀態(tài)。已確定軟復位／通電；即將啟動ROM。DMA初如準備正在進行或者失靈。

06、使電路片作初始準備，停用視頻、奇偶性、DMA電路片，以及清除DMA電路片，所有頁面寄存器和CMOS停機字節(jié)。已啟動ROM計算ROMBIOS檢查總和，以及檢查鍵盤緩沖器是否清除。DMA初始頁面寄存器讀／寫測試正在進行或靈。

07、處理器測試2，核實CPU寄存器的工作。ROMBIOS檢查總和正常，鍵盤緩沖器已清除，向鍵盤發(fā)出BAT（基本保證測試）命令。.

08、使CMOS計時器作初始準備，正常的更新計時器的循環(huán)。已向鍵盤發(fā)出BAT命令，即將寫入BAT命令。RAM更新檢驗正在進行或失靈。

09、EPROM檢查總和且必須等于零才通過。核實鍵盤的基本保證測試，接著核實鍵盤命令字節(jié)。第

一個64KRAM測試正在進行。

0A、使視頻接口作初始準備。發(fā)出鍵盤命令字節(jié)代碼，即將寫入命令字節(jié)數(shù)據(jù)。第一個64KRAM芯片或數(shù)據(jù)線失靈，移位。

0B、測試8254通道0。寫入鍵盤控制器命令字節(jié)，即將發(fā)出引腳23和24的封【蟹】鎖／解鎖命令。第一個64KRAM奇／偶邏輯失靈。

0C、測試8254通道1。鍵盤控制器引腳23、24已封【蟹】鎖／解鎖；已發(fā)出NOP命令。第一個64KRAN的地址線故障。

0D1、檢查CPU速度是否與系統(tǒng)時鐘相匹配。2、檢查控制芯片已編程值是否符合初設(shè)置。3、視頻通道測試，如果失敗，則鳴喇叭。已處理NOP命令；接著測試CMOS停開寄存器。第一個64KRAM的奇偶性失靈0E測試CMOS停機字節(jié)。CMOS停開寄存器讀／寫測試；將計算CMOS檢查總和。初始化輸入／輸出端口地址。0F測試擴展的CMOS。已計算CMOS檢查總和寫入診斷字節(jié)；CMOS開始初始準備。.

10、測試DMA通道0。CMOS已作初始準備，CMOS狀態(tài)寄存器即將為日期和時間作初始準備。第一個64KRAM第0位故障。

11、測試DMA通道1。CMOS狀態(tài)寄存器已作初始準備，即將停用DMA和中斷控制器。第一個64DKRAM第1位故障。

12、測試DMA頁面寄存器。停用DMA控制器1以及中斷控制器1和2；即將視頻顯示器并使端口B作初始準備。第一個64DKRAM第2位故障。

13、測試8741鍵盤控制器接口。視頻顯示器已停用，端口B已作初始準備；即將開始電路片初始化／存儲器自動檢測。第一個64DKRAM第3位故障。

14、測試存儲器更新觸發(fā)電路。電路片初始化／存儲器處自動檢測結(jié)束；8254計時器測試即將開始。第一個64DKRAM第4位故障。

15、測試開頭64K的系統(tǒng)存儲器。第2通道計時器測試了一半；8254第2通道計時器即將完成測試。第一個64DKRAM第5位故障。

16、建立8259所用的中斷矢量表。第2通道計時器測試結(jié)束；8254第1通道計時器即將完成測試。第一個64DKRAM第6位故障。

17、調(diào)準視頻輸入／輸出工作，若裝有視頻BIOS則啟用。第1通道計時器測試結(jié)束；8254第0通道計時器即將完成測試。第一個64DKRAM第7位故障。

18、測試視頻存儲器，如果安裝選用的視頻BIOS通過，由可繞過。第0通道計時器測試結(jié)束；即將開始更新存儲器。第一個64DKRAM第8位故障。

19、測試第1通道的中斷控制器（8259）屏蔽位。已開始更新存儲器，接著將完成存儲器的更新。第一個64DKRAM第9位故障。

1A、測試第2通道的中斷控制器（8259）屏蔽位。正在觸發(fā)存儲器更新線路，即將檢查15微秒通／斷時間。第一個64DKRAM第10位故障。

1B、測試CMOS電池電平。完成存儲器更新時間30微秒測試；即將開始基本的64K存儲器測試。第一個64DKRAM第11位故障。

1C、測試CMOS檢查總和。.第一個64DKRAM第12位故障。

1D、

調(diào)定CMOS配置。.第一個64DKRAM第13位故障。

1E、測定系統(tǒng)存儲器的大小，并且把它和CMOS值比較。.第一個64DKRAM第14位故障。

1F、測試64K存儲器至最高640K。.第一個64DKRAM第15位故障。

20、測量固定的8259中斷位。開始基本的64K存儲器測試；即將測試地址線。從屬DMA寄存器測試正在進行或失靈。

21、維持不可屏蔽中斷（NMI）位（奇偶性或輸入／輸出通道的檢查）。通過地址線測試；即將觸發(fā)奇偶性。主DMA寄存器測試正在進行或失靈。

22、測試8259的中斷功能。結(jié)束觸發(fā)奇偶性；將開始串行數(shù)據(jù)讀／寫測試。主中斷屏蔽寄存器測試正在進行或失靈。

23、測試保護方式8086虛擬方式和8086頁面方式?；镜?4K串行數(shù)據(jù)讀／寫測試正常；即將開始中斷矢量初始化之前的任何調(diào)節(jié)。從屬中斷屏蔽存器測試正在進行或失靈。

24、測定1MB以上的擴展存儲器。矢量初始化之前的任何調(diào)節(jié)完成，即將開始中斷矢量的初始準備。設(shè)置ES段地址寄存器注冊表到內(nèi)存高端。

25、測試除頭一個64K之后的所有存儲器。完成中斷矢量初始準備；將為旋轉(zhuǎn)式斷續(xù)開始讀出8042的輸入／輸出端口。裝入中斷矢量正在進行或失靈。26、測試保護方式的例外情況。讀出8042的輸入／輸出端口；即將為旋轉(zhuǎn)式斷續(xù)開始使全局數(shù)據(jù)作初始準備。開啟A20地址線；使之參入尋址。

27、確定超高速緩沖存儲器的控制或屏蔽RAM。全1數(shù)據(jù)初始準備結(jié)束；接著將進行中斷矢量之后的任何初始準備。鍵盤控制器測試正在進行或失靈。28、確定超高速緩沖存儲器的控制或者特別的8042鍵盤控制器。完成中斷矢量之后的初始準備；即將調(diào)定單色方式。CMOS電源故障／檢查總和計算正在進行。

29、已調(diào)定單色方式，即將調(diào)定彩色方式。CMOS配置有效性的檢查正在進行。

2A、使鍵盤控制器作初始準備。已調(diào)定彩色方式，即將進行ROM測試前的觸發(fā)奇偶性。置空64K基本內(nèi)存。

2B、使磁碟驅(qū)動器和控制器作初始準備。觸發(fā)奇偶性結(jié)束；即將控制任選的視頻ROM檢查前所需的任何調(diào)節(jié)。屏幕存儲器測試正在進行或失靈。

2C、檢查串行端口，并使之作初始準備。完成視頻ROM控制之前的處理；即將查看任選的視頻ROM并加以控制。屏幕初始準備正在進行或失靈。

2D、檢測并行端口，并使之作初始準備。已完成任選的視頻ROM控制，即將進行視頻ROM回復控制之后任何其他處理的控制。屏幕回掃測試正在進行或失靈。

2E、使硬磁盤驅(qū)動器和控制器作初始準備。從視頻ROM控制之后的處理復原；如果沒有發(fā)現(xiàn)EGA／VGA就要進行顯示器存儲器讀／寫測試。檢測視頻ROM正在進行。

2F、檢測數(shù)學協(xié)處理器，并使之作初始準備。沒發(fā)現(xiàn)EGA／VGA；即將

始顯示器存儲器讀／寫測試。.

30、建立基本內(nèi)存和擴展內(nèi)存。通過顯示器存儲器讀／寫測試；即將進行掃描檢查。認為屏幕是可以工作的。

31、檢測從C800：0至EFFF：0的選用ROM，并使之作初始準備。顯示器存儲器讀／寫測試或掃描檢查失敗，即將進行另一種顯示器存儲器讀／寫測試。單色監(jiān)視器是可以工作的。

32、對主板上COM／LTP／FDD／聲音設(shè)備等I／O芯片編程使之適合設(shè)置值。通過另一種顯示器存儲器讀／寫測試；卻將進行另一種顯示器掃描檢查。彩色監(jiān)視器（40列）是可以工作的。

33、視頻顯示器檢查結(jié)束；將開始利用調(diào)節(jié)開關(guān)和實際插卡檢驗顯示器的關(guān)型。彩色監(jiān)視器（80列）是可以工作的。

34、已檢驗顯示器適配器；接著將調(diào)定顯示方式。計時器滴答聲中斷測試正在進行或失靈。

35、完成調(diào)定顯示方式；即將檢查BIOSROM的數(shù)據(jù)區(qū)。停機測試正在進行或失靈。

36、已檢查BIOSROM數(shù)據(jù)區(qū)；即將調(diào)定通電信息的游標。門電路中A－20失靈。

37、識別通電信息的游標調(diào)定已完成；即將顯示通電信息。保護方式中的意外中斷。

38、完成顯示通電信息；即將讀出新的游標位置。RAM測試正在進行或者地址故障＞FFFFH。

39、已讀出保存游標位置，即將顯示引用信息串。.

3A、引用信息串顯示結(jié)束；即將顯示發(fā)現(xiàn)信息。間隔計時器通道2測試或失靈。

3B、用OPTI電路片（只是486）使輔助超高速緩沖存儲器作初始準備。已顯示發(fā)現(xiàn)＜ESC＞信息；虛擬方式，存儲器測試即將開始。按日計算的日歷時鐘測試正在進行或失靈。

3C、建立允許進入CMOS設(shè)置的標志。.串行端口測試正在進行或失靈。

3D、初始化鍵盤／PS2鼠標／PNP設(shè)備及總內(nèi)存節(jié)點。.并行端口測試正在進行或失靈。

3E、嘗試打開L2高速緩存。.數(shù)學協(xié)處理器測試正在進行或失靈。

40、已開始準備虛擬方式的測試；即將從視頻存儲器來檢驗。調(diào)整CPU速度，使之與外圍時鐘精確匹配。

41、中斷已打開，將初始化數(shù)據(jù)以便于0：0檢測內(nèi)存變換（中斷控制器或內(nèi)存不良）從視頻存儲器檢驗之后復原；即將準備描述符表。系統(tǒng)插件板選擇失靈。

42、顯示窗口進入SETUP。描述符表已準備好；即將進行虛擬方式作存儲器測試。擴展CMOSRAM故障。

43、若是即插即用BIOS，則串口、并口初始化。進入虛擬方式；即將為診斷方式實現(xiàn)中斷。

44、已實現(xiàn)中斷（如已接通診斷開關(guān)；即將使數(shù)據(jù)作初始準備以檢查存儲器在0：0返轉(zhuǎn)。）BIOS中斷進行初始化。

45、初始化數(shù)學協(xié)處理器。數(shù)據(jù)已作初始準備；即將檢查存儲器在0：0返轉(zhuǎn)以及找出系統(tǒng)存儲器的規(guī)模。.

46、測試存儲器已返回；存儲器大小計算完畢，即將寫入頁面來測

測試存儲器。檢查只讀存儲器ROM版本。

47、即將在擴展的存儲器試寫頁面；即將基本640K存儲器寫入頁面。

48、已將基本存儲器寫入頁面；即將確定1MB以上的存儲器。視頻檢查，CMOS重新配置。

49、找出1BM以下的存儲器并檢驗；即將確定1MB以上的存儲器。.

4A、找出1MB以上的存儲器并檢驗；即將檢查BIOSROM數(shù)據(jù)區(qū)。進行視頻的初始化。

4B、BIOSROM數(shù)據(jù)區(qū)的檢驗結(jié)束，即將檢查＜ESC＞和為軟復位清除1MB以上的存儲器。

4C、清除1MB以上的存儲器(軟復位)即將清除1MB以上的存儲器.屏蔽視頻BIOSROM。

4D、已清除1MB以上的存儲器（軟復位）；將保存存儲器大小。.

4E、若檢測到有錯誤；在顯示器上顯示錯誤信息，并等待客戶按＜F1＞鍵繼續(xù)。開始存儲器的測試：（無軟復位）；即將顯示第一個64K存儲器的測試。顯示版權(quán)信息。4F讀寫軟、硬盤數(shù)據(jù)，進行DOS引導。開始顯示存儲器的大小，正在測試存儲器將使之更新；將進行串行和隨機的存儲器測試。.

50、將當前BIOS監(jiān)時區(qū)內(nèi)的CMOS值存到CMOS中。完成1MB以下的存儲器測試；即將高速存儲器的大小以便再定位和掩蔽。將CPU類型和速度送到屏幕。

51、測試1MB以上的存儲器。.

52、所有ISA只讀存儲器ROM進行初始化，最終給PCI分配IRQ號等初始化工作。已完成1MB以上的存儲器測試；即將準備回到實址方式。進入鍵盤檢測。

53、如果不是即插即用BIOS，則初始化串口、并口和設(shè)置時種值。保存CPU寄存器和存儲器的大小，將進入實址方式。.

54、成功地開啟實址方式；即將復原準備停機時保存的寄存器。掃描“打擊鍵”

55、寄存器已復原，將停用門電路A－20的地址線。.

56、成功地停用A－20的地址線；即將檢查BIOSROM數(shù)據(jù)區(qū)。鍵盤測試結(jié)束。

57、BIOSROM數(shù)據(jù)區(qū)檢查了一半；繼續(xù)進行。.

58、IOSROM的數(shù)據(jù)區(qū)檢查結(jié)束；將清除發(fā)現(xiàn)＜ESC＞信息。非設(shè)置中斷測試。

59、已清除＜ESC＞信息；信息已顯示；即將開始DMA和中斷控制器的測試。.

5A、顯示按“F2”鍵進行設(shè)置。

5B、測試基本內(nèi)存地址。

5C、測試640K基本內(nèi)存。

60、設(shè)置硬盤引導扇區(qū)病毒保護功能。通過DMA頁面寄存器的測試；即將檢驗視頻存儲器。測試擴展內(nèi)存。

61、顯示系統(tǒng)配置表。視頻存儲器檢驗結(jié)束；即將進行DMA＃1基本寄存器的測試。.

62、開始用中斷19H進行系統(tǒng)引導。通過DMA＃1基本寄存器的測試；即將進行DMA＃2寄存器的測試。測試擴展內(nèi)存地址線。

63、通過DMA＃2基本寄存器的測試；即將檢查BIOSROM數(shù)據(jù)區(qū)。.

64、BIOSROM數(shù)據(jù)區(qū)檢查了一半，繼續(xù)進行。.

65、BIOSROM數(shù)據(jù)區(qū)檢查結(jié)束；將把DMA裝置1和2編程。.

66、DMA裝置1和2編程結(jié)束；即將使用59號中斷控制器

作初始準備。Cache注冊表進行優(yōu)化配置。67、8259初始準備已結(jié)束；即將開始鍵盤測試。.

68、使外部Cache和CPU內(nèi)部Cache都工作。

6A、測試并顯示外部Cache值。6C..顯示被屏蔽內(nèi)容。

6E、顯示附屬配置信息。

70、檢測到的錯誤代碼送到屏幕顯示。

72、檢測配置有否錯誤。

74、測試實時時鐘。

76、掃查鍵盤錯誤。

7A、鎖鍵盤。

7C、設(shè)置硬件中斷矢量。

7E、測試有否安裝數(shù)學處理器。

80、鍵盤測試開始，正在清除和檢查有沒有鍵卡住，即將使鍵盤復原。關(guān)閉可編程輸入／輸出設(shè)備。

81、找出鍵盤復原的錯誤卡住的鍵；即將發(fā)出鍵盤控制端口的測試命令。.

82、鍵盤控制器接口測試結(jié)束，即將寫入命令字節(jié)和使循環(huán)緩沖器作初始準備。檢測和安裝固定RS232接口（串口）。

83、已寫入命令字節(jié)，已完成全局數(shù)據(jù)的初始準備；即將檢查有沒有鍵鎖住。.

84、已檢查有沒有鎖住的鍵，即將檢查存儲器是否與CMOS失配。檢測和安裝固定并行口。

85、已檢查存儲器的大?。患磳@示軟錯誤和口令或旁通安排。.

86、已檢查口令；即將進行旁通安排前的編程。重新打開可編程I／O設(shè)備和檢測固定I／O是否有沖突。

87、完成安排前的編程；將進行CMOS安排的編程。.

88、從CMOS安排程序復原清除屏幕；即將進行后面的編程。初始化BIOS數(shù)據(jù)區(qū)。

89、完成安排后的編程；即將顯示通電屏幕信息。.

8A、顯示頭一個屏幕信息。進行擴展BIOS數(shù)據(jù)區(qū)初始化。

8B、顯示了信息：即將屏蔽主要和視頻BIOS。.

8C、成功地屏蔽主要和視頻BIOS，將開始CMOS后的安排任選項的編程。進行軟驅(qū)控制器初始化。8D、已經(jīng)安排任選項編程，接著檢查滑了鼠和進行初始準備。.

8E、檢測了滑鼠以及完成初始準備；即將把硬、軟磁盤復位。.

8F、軟磁盤已檢查，該磁碟將作初始準備，隨后配備軟磁碟。.

90、軟磁碟配置結(jié)束；將測試硬磁碟的存在。硬盤控制器進行初始化。

91、硬磁碟存在測試結(jié)束；隨后配置硬磁碟。局部總線硬盤控制器初始化。

92、硬磁碟配置完成；即將檢查BIOSROM的數(shù)據(jù)區(qū)。跳轉(zhuǎn)到用戶路徑2。

93、BIOSROM的數(shù)據(jù)區(qū)已檢查一半；繼續(xù)進行。.

94、BIOSROM的數(shù)據(jù)區(qū)檢查完畢，即調(diào)定基本和擴展存儲器的大小。關(guān)閉A－20地址線。

95、因應(yīng)滑鼠和硬磁碟47型支持而調(diào)節(jié)好存儲器的大?。患磳z驗顯示存儲器。.

96、檢驗顯示存儲器后復原；即將進行C800：0任選ROM控制之前的初始準備?！癊S段”注冊表清除。

97、C800：0任選ROM控制之前的任何初始準備結(jié)束，接著進行任選ROM的檢查及控制。

98、任選ROM的控制完成；即將進行任選ROM回復控制之后所需的任何處理。查找ROM選擇。

99、任

選ROM測試之后所需的任何初始準備結(jié)束；即將建立計時器的數(shù)據(jù)區(qū)或打印機基本地址。

9A、調(diào)定計時器和打印機基本地址后的返回操作；即調(diào)定RS－232基本地址。屏蔽ROM選擇。

9B、在RS－232基本地址之后返回；即將進行協(xié)處理器測試之初始準備。.

9C、協(xié)處理器測試之前所需初始準備結(jié)束；接著使協(xié)處理器作初始準備。建立電源節(jié)能管理。

9D、協(xié)處理器作好初始準備，即將進行協(xié)處理器測試之后的任何初始準備。.

9E、完成協(xié)處理器之后的初始準備，將檢查擴展鍵盤，鍵盤識別符，以及數(shù)字鎖定。開放硬件中斷。9F、已檢查擴展鍵盤，調(diào)定識別標志，數(shù)字鎖接通或斷開，將發(fā)出鍵盤識別命令。.

A0、發(fā)出鍵盤識別命令；即將使鍵盤識別標志復原。設(shè)置時間和日期。

A1、鍵盤識別標志復原；接著進行高速緩沖存儲器的測試。.

A2、高速緩沖存儲器測試結(jié)束；即將顯示任何軟錯誤。檢查鍵盤鎖。

A3、軟錯誤顯示完畢；即將調(diào)定鍵盤打擊的速率。.

A4、調(diào)好鍵盤的打擊速率，即將制訂存儲器的等待狀態(tài)。鍵盤重復輸入速率的初始化。

A5、存儲器等候狀態(tài)制定完畢；接著將清除屏幕。.

A6、屏幕已清除；即將啟動奇偶性和不可屏蔽中斷。.

A7、已啟用不可屏蔽中斷和奇偶性；即將進行控制任選的ROM在E000：0之所需的任何初始準備。.

A8、控制ROM在E000：0之前的初始準備結(jié)束，接著將控制E000：0之后所需的任何初始準備。清除“F2”鍵提示。

A9、控制E000：0ROM返回，即將進行控制E000：0任選ROM之后所需的任何初始準備。.

AA、在E000：0控制任選ROM之后的初始準備結(jié)束；即將顯示系統(tǒng)的配置。掃描“F2”鍵打擊。

AC、進入設(shè)置.

AE、清除通電自檢標志。

B0、檢查非關(guān)鍵性錯誤。

B2、通電自檢完成準備進入操作系統(tǒng)引導。

B4、蜂鳴器響一聲。

B6、檢測密碼設(shè)置（可選）。

B8、清除全部描述表。

BC、清除校驗檢查值。

BE、程序缺省值進入控制芯片，符合可調(diào)制二進制缺省值表。.清除屏幕（可選）。

BF、測試CMOS建立值。.檢測病毒，提示做資料備份。

C0、初始化高速緩存。.用中斷19試引導。

C1、內(nèi)存自檢。.查找引導扇區(qū)中的“55”“AA”標記。

C3、第一個256K內(nèi)存測試。..

C5、從ROM內(nèi)復制BIOS進行快速自檢。..

C6、高速緩存自檢。..

CA、檢測Micronies超速緩沖存儲器（如果存在），并使之作初始準備。..

CC、關(guān)斷不可屏蔽中斷處理器。..

EE、處理器意料不到的例外情況。..

FF、給予INI19引導裝入程序的控制，主板OK